零死時間（ZDT） - 無損計數(shù)校正
計數(shù)率變化太快？需要計算不確定性？ZDT是您的！

ZDT是傳統(tǒng)活時間擴展的替代方案，可以校正死時間。它尤其適用于計數(shù)率在采集期間顯著衰減的應用（如中子活化分析），或者在長時間采集過程中活度激增的應用（如堆棧監(jiān)測中的熱粒子情況）。

活時間時鐘可延長電子設備的計數(shù)時間，以補償死時間。無損計數(shù)方法，如我們的ZDT，在系統(tǒng)處理其他脈沖時校正那些計數(shù)“丟失”譜中的實際計數(shù)數(shù)量。ZDT方法使用ORTEC高度精確的Gedcke-Hale時鐘來確定在電子設備“死”時間內(nèi)應添加多少事件。

在ZDT模式下，DSPEC jr 2.0自動存儲校正后的譜和方差譜。這兩種譜也可存儲在ORTEC SPC格式的文件結(jié)構(gòu)中，以便在將來進行比較。用戶可以通過GammaVision和MAESTRO中的簡單菜單命令輕松切換校正和未校正的譜。

ORTEC ZDT模式包括不確定性的估計算法，進一步完善了我們的ZDT方法。其他“無損計數(shù)”方法無法計算與計數(shù)（被添加到譜的這部分）相關(guān)的不確定性，而DSPEC jr 2.0中的ZDT模式可以同時生成校正后的譜和收集數(shù)據(jù)時的不確定性。有關(guān)ZDT的更多信息，請參見應用說明56，“使用ORTEC的創(chuàng)新零死時間技術(shù)進行不確定性分析的無損計數(shù)”。

低頻噪聲抑制器數(shù)字濾波器可提高機械冷卻系統(tǒng)的分辨率！
LFR旨在消除高純鍺探測器輸出信號中的顫噪噪聲。您期待什么樣的結(jié)果？如果您機械冷卻系統(tǒng)的分辨率較低，LFR可以顯著提高其分辨率。

彈道虧損校正
使用ORTEC的數(shù)字信號處理DSPEC產(chǎn)品系列，無需擔心彈道虧損問題。在較大的HPGe探測器中，有時會出現(xiàn)所謂的彈道虧損效應。這通常會導致較差的分辨率，對于高能量峰值尤為嚴重。在模擬系統(tǒng)中，彈道虧損通常使用門控積分放大器或通過分辨率增強器模塊進行校正。然而，在數(shù)字系統(tǒng)中，只需對數(shù)字濾波器的平頂寬度進行簡單調(diào)整即可。

使用DSPEC jr 2.0中的InSight模式，操作員可以調(diào)整平頂寬度（和傾斜度），并立即看到信號處理的效果。在大多數(shù)情況下，對于非常大的探測器（例如本例中使用的效率為207％的探測器！），0.8 μs的平頂設置足以恢復出色的分辨率。

簡單的整形參數(shù)設置
DSPEC jr 2.0可幫助您保持對數(shù)字系統(tǒng)的控制。上升時間和平頂寬度調(diào)整功能使您能夠根據(jù)應用“微調(diào)”譜儀的性能。優(yōu)化分辨率和處理量從未如此簡單！

在DSPEC jr 2.0中，除了傾斜參數(shù)外，還有112個上升時間（從0.8到23 μs，以0.2為增量）和22個平頂寬度（從0.3到2.4 μs，以0.1為增量），可為您提供超過2,000種參數(shù)組合。

盡請放心。.. 我們?nèi)匀辉诳刂泼姘逯刑峁┳詣?ldquo;優(yōu)化”功能，以便您選擇最合適的參數(shù)！這意味著只需輕點鼠標即可改善探測器的分辨率和處理量。

SMART-1™支持質(zhì)量數(shù)據(jù)
ORTEC的SMART-1探測器非常智能。它們監(jiān)測和存儲探測器的“健康狀態(tài)”（探測器溫度、前置放大器功率、偏壓超量程、偏壓開/關(guān)狀態(tài)）。DSPEC jr 2.0的單次檢查將驗證探測器是否準備就緒以及準備好進行采集。在采集過程中，SMART-1探測器持續(xù)監(jiān)測“健康狀態(tài)”（SOH），以確保采集數(shù)據(jù)的完整性。在采集結(jié)束時，將快速檢查SMART-1探測器中的SOH標記，然后顯示測量期間是否有任何參數(shù)偏離規(guī)范。這對于需要進行長時間計數(shù)的環(huán)境樣品和需要數(shù)據(jù)完整性的監(jiān)管樣品來說至關(guān)重要。

另一大優(yōu)勢是SMART-1探測器在出廠時已預設推薦的偏壓值。您不再需要查看手冊或探測器上的標簽以設置正確的偏壓值。只要打開DSPEC jr 2.0，SMART-1探測器會自動檢測探測器溫度，確定正確的高壓偏壓并將其打開。

與探測器的便捷單根電纜連接
DSPEC jr 2.0使用的ORTEC DIM（探測器接口模塊），僅用一根電纜連接DSPEC jr 2.0和探測器。DIM提供接近探測器的偏壓，以便在電纜中僅承載信號和低壓電源。由于長電纜承載高電壓可能造成的危險現(xiàn)已被消除。

顯示重要參數(shù)
DSPEC jr 2.0在前面板LCD顯示屏上顯示重要的系統(tǒng)參數(shù)。DSPEC jr 2.0將顯示儀器ID、名稱、序列號、預設計數(shù)條件、當前活時間和實時間、死時間百分比、輸入計數(shù)率、HV狀態(tài)和值，以及SMART-1探測器的序列號。

小巧
DSPEC jr 2.0的占地面積與臺歷相當，可以直接放在桌面上。輕巧又結(jié)實的多個DSPEC jr 2.0可以疊放在一起，它們的外殼互鎖，不用擔心滑動或傾斜。

與現(xiàn)有的MCB隨意組合
ORTEC CONNECTIONS軟件支持連接到任何計算機上的任何組合和數(shù)量的USB設備。例如，兩個digiDART可以使用USB集線器與兩個DSPEC jr 2.0一起連接到同一臺PC。任何數(shù)量的其他ORTEC MCB都可以通過網(wǎng)絡、打印機端口、RS-232或雙端口內(nèi)存連接到同一系統(tǒng)。

添加換樣器
如果您準備使用集成的換樣器自動化您的流程，DSPEC jr 2.0由于具有內(nèi)置的換樣器接口和控件可滿足您這一需求。

...還是像往常一樣容易設置！
DSPEC儀器易于設置和使用。采用智能MCA控制，無需手動配置，甚至不需要所謂的向?qū)АＤ恍璋惭b軟件（如GammaVision或MAESTRO），軟件“知道”所需顯示的控制面板。面板的表格式設計對DSPEC jr 2.0上的可用控件和功能進行了邏輯分組。

DSPEC jr 2.0包括ORTEC的數(shù)字自動極零電路、數(shù)字自動基線恢復和優(yōu)化功能，可為當前連接到DSPEC jr 2.0的探測器選擇平頂/傾斜設置，從而使譜測量系統(tǒng)的設置和優(yōu)化變得異常簡單。

當然，我們產(chǎn)品創(chuàng)新性的一個特點是InSight™，即內(nèi)置虛擬數(shù)字示波器。使用InSight功能，您可以輕松查看更改平頂寬度、基線恢復設置的效果或檢查彈道虧損校正的效果（請參閱側(cè)欄）。不再需要一個沉重和麻煩的外部示波器。不需要特殊的軟件。只需打開控制面板并打開InSight模式即可。